Microelectronic manufacturing yield, reliability and failure analysis IV - 23-24 September 1998, Santa Clara, California
- Författare
- (Sharad Prasad, Hans-Dieter Hartmann, Tohru Tsujide, chairs/editors)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Cop. 1998 | USA | 240 sidor. | 0-8194-2969-4 |